超砥粒受託分析｜技術情報｜株式会社グローバルダイヤモンド

超砥粒製品の選定にお悩みの方はお気軽にご相談ください。
ご要望に適した超砥粒製品をご案内いたします。

砥粒の受入検査を自社でおこなってきた専門メーカーならではの豊富なデータと実績をもとに、お預かりしたサンプルを受託分析いたします。

受託分析　測定項目および機種

測定項目	測定方法	装置機種名	測定範囲
粒度分布	レーザー回折法	マスターサイザー3000 Malvern社製	0.01-2000(um)
	ふるい分け法	電磁式ふるい分け振とう器(Octagon Digital) エンデコッツ社製	お問い合わせください
	画像解析法	Morphologi4-ID Malvern社製	お問い合わせください
粒子形状	顕微鏡法	工業用実体顕微鏡(BXiS) Olympus社製	10.0um~
	顕微鏡法	走査電子顕微鏡(JCM-7000 NeoScope) 日本電子社製	1.0-1000(um)
	乾式画像解析法	Morphologi4-ID Malvern社製	5.0um~
元素分析	EDS (エネルギー分散型X線分光)	走査電子顕微鏡(JCM-7000 NeoScope) 日本電子社製	お問い合わせください
嵩比重測定		嵩比重測定器	100um~

受託分析の流れ

step.1受託分析依頼書の提出
step.2概算見積提示
step.3秘密保持契約の締結
（任意）
step.4分析目的、納品形態確認
（報告書サンプル提示）
step.5受託分析依頼書の提出
step.6正式見積/御発注書
step.7分析
step.8報告書類提出（納品）
、サンプル返却

受託分析成果物について

受託分析では、お客様が期待されているものと弊社の成果物が一致することが大切で、分析の目的等をお聞きして十分なすり合わせが必要と考えております。例えば粒子形状の分析といっても、「アスペクト比」「面積円形度」、「円形度」など様々なパラメーターが存在するため、上記「分析の流れ」STEP4で示したとおり、早い段階から成果物のイメージをつかんでいただければと考えております。また必要に応じて、装置特性や各パラメーターの御説明をおこないますので、依頼前のご相談も含め以下までお気軽に御問合せください。