超砥粒製品の選定にお悩みの方はお気軽にご相談ください。
ご要望に適した超砥粒製品をご案内いたします。
砥粒の受入検査を自社でおこなってきた専門メーカーならではの豊富なデータと実績をもとに、お預かりしたサンプルを受託分析いたします。
測定項目 |
測定方法 | 装置機種名 | 測定範囲 |
粒度分布 | レーザー回折法 |
マスターサイザー3000 Malvern社製 |
0.01-2000(um) |
ふるい分け法 |
電磁式ふるい分け振とう器(Octagon Digital) エンデコッツ社製 |
お問い合わせください |
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画像解析法 |
Morphologi4-ID Malvern社製 |
お問い合わせください | |
粒子形状 | 顕微鏡法 |
工業用実体顕微鏡(BXiS) Olympus社製 |
10.0um~ |
顕微鏡法 |
走査電子顕微鏡(JCM-7000 NeoScope) 日本電子社製 |
1.0-1000(um) | |
乾式画像解析法 |
Morphologi4-ID Malvern社製 |
5.0um~ | |
元素分析 | EDS
(エネルギー分散型X線分光) |
走査電子顕微鏡(JCM-7000 NeoScope) 日本電子社製 |
お問い合わせください |
嵩比重測定 |
嵩比重測定器 |
100um~ |
受託分析では、お客様が期待されているものと弊社の成果物が一致することが大切で、分析の目的等をお聞きして十分なすり合わせが必要と考えております。例えば粒子形状の分析といっても、「アスペクト比」「面積円形度」、「円形度」など様々なパラメーターが存在するため、上記「分析の流れ」STEP4で示したとおり、早い段階から成果物のイメージをつかんでいただければと考えております。また必要に応じて、装置特性や各パラメーターの御説明をおこないますので、依頼前のご相談も含め以下までお気軽に御問合せください。
グローバルダイヤモンドでは、お客様が現在お使いのダイヤモンド、CBN砥粒に関する課題や問題点を、以下の3つの切り口から解決・提案を図ります。カタログからのセレクト購入だけではなく、カスタマイズ対応で、お客様と一体になり、よりよい最終製品へのお手伝いをご提案します。 超砥粒製品の選定にお悩みの方はお気軽にご相談ください。 お客様からよくいただく質問と回答をまとめました。お問い合わせの前にご確認ください。グローバルダイヤモンドについて
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