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砥粒(とりゅう)の受託分析・受託加工

砥粒の受託分析

最新装置であらゆる粉体を分析します

砥粒の受入検査を自社でおこなってきた専門商社ならではの豊富なデータと実績をもとに、お預かりしたサンプルを分析します。ダイヤモンドやCBNに限らず、あらゆる粉体に対応。他社からの購入品の品質確認や、自社検査機器の故障時の代替などの目的に対し、第三者機関としての客観的な分析データを提供します。

保有する分析機器(機種)と測定項目

レーザー回折式粒度測定器

  • 機種名(メーカー):Mastersizer 3000(Malvern社製)
  • 測定項目・方法:粒度分布(レーザー回折法)
  • 測定範囲:0.01 - 2000(µm)
  • 用途・特徴:粒度分布の確認を行います。製造工場での検査記録のダブルチェックや、お客様が現行でお使いの砥粒の代替提案時の測定などに使用します。
レーザー回折式粒度測定器

電気的検知帯法精密粒度測定器

  • 機種名(メーカー):Multisizer 4e(Beckman Coulter社製)
  • 測定項目・方法:粒度分布・粗大粒検出(電気的検知帯法)
  • 測定範囲:0.2 - 1600(µm)
  • 用途・特徴:粒度分布の測定に加えて、測定粒子の実数を計測することにより微量の粗大粒子の有無を確認できます。
電気的検知帯法精密粒度測定器

動的光散乱式粒子径測定器

  • 機種名(メーカー):Nanotrac WAVEⅡ-EX150(Microtrac社製)
  • 測定項目・方法:粒度分布(動的光散乱法)
  • 測定範囲:0.8 - 6500(nm)
  • 用途・特徴:ナノサイズの粒度分布を測定します。出荷前の粒度確認などに使用します。
動的光散乱式粒子径測定器

電磁式ふるい分け振とう器

  • 機種名(メーカー):Octagon Digital(エンデコッツ社製)
  • 測定項目・方法:粒度分布(ふるい分け法)
  • 測定範囲:お問い合わせください
  • 用途・特徴:粗粒・異物の有無確認や除去処理、ハイカット製品(特殊サイズ)の製造などに使用します。
電磁式ふるい分け振とう器

乾式画像解析式形状測定器

  • 機種名(メーカー):Morphologi 4-ID(Malvern社製)
  • 測定項目・方法:粒度分布・粒子形状(乾式画像解析法)
  • 測定範囲:5.0(µm) ~ ※粒度分布範囲はお問い合わせください
  • 用途・特徴:画像解析を用いた砥粒形状の判定や粗大粒の確認を行います。
乾式画像解析式形状測定器

顕微ラマン分光分析装置

  • 機種名(メーカー):Morphologi 4-ID(Malvern社製)
  • 測定項目・方法:物性(顕微ラマン分光分析)
  • 測定範囲:1~ 1300(µm)
  • 用途・特徴:ラマン分光による結晶状態の推察(硬さ代替評価、CVD多結晶のロット確認など)を行います。
顕微ラマン分光分析装置

工業用実体顕微鏡

  • 機種名(メーカー):BXiS(Olympus社製)
  • 測定項目・方法:粒子形状・外観検査(顕微鏡法)
  • 測定範囲:10.0(µm) ~
  • 用途・特徴:大型単結晶やCVDの形状・サイズ確認、内包不純物や表面状態の確認といった外観検査に使用します。
工業用実体顕微鏡

走査電子顕微鏡(SEM)

  • 機種名(メーカー):JCM-7000 NeoScope(日本電子社製)
  • 測定項目・方法:粒子形状・外観検査(顕微鏡法)、元素分析(EDS:エネルギー分散型X線分光)
  • 測定範囲:1.0 - 1000(µm) ※元素分析範囲はお問い合わせください
  • 用途・特徴:砥粒の凝集やコート状態の確認、異物や粗大粒の簡易確認を行います。また、EDS分析機能を用いた異物特定などにも対応します。
走査電子顕微鏡(SEM)

インパクトテスター

  • 機種名(メーカー):CYCJ-04A(SINOMACH社製)
  • 測定項目・方法:Ti測定(遊星ボールミリング)
  • 測定範囲:~270/325程度まで(粒径約60µmより粗いもの)
  • 用途・特徴:メッシュサイズの砥粒強度(TI値)の検査・測定を行います。
インパクトテスター

かさ比重測定器

  • 機種名(メーカー):JS72-1(SINOMACH社製)
  • 測定項目・方法:かさ比重測定
  • 測定範囲:100(µm) ~
  • 用途・特徴:かさ比重の測定を通じた、簡易的な砥粒形状の評価やダブルチェックに使用します。
かさ比重測定器

粉体磁化率分析器

  • 機種名(メーカー):お問い合わせください
  • 測定項目・方法:結晶内包物検査
  • 測定範囲:お問い合わせください
  • 用途・特徴:電着不具合の原因追及や、製造工場での選別作業のダブルチェックなどに使用します。
粉体磁化率分析器

ランプ加熱装置

  • 機種名(メーカー):お問い合わせください
  • 測定項目・方法:耐熱強度(TTI値)検査
  • 測定範囲:お問い合わせください
  • 用途・特徴:砥粒の耐熱検査や、お客様が現行でお使いの砥粒の代替提案時の測定などに使用します。
ランプ加熱装置

受託分析の流れ

STEP 01

お問い合わせ・ヒアリング

まずは分析の目的やご希望の納品形態(報告書の形式など)をお聞かせください。報告書のサンプルや概算のお見積りを提示します(秘密保持契約の締結も可能です)。

STEP 02

ご発注・サンプルの送付

成果物のイメージ、正式なお見積り内容にご納得いただけましたら、「受託分析依頼書」および発注書をご提出いただき、分析対象のサンプルを弊社までお送りください。

STEP 03

受託分析の実施

お預かりしたサンプルを、自社ラボの最新検査機器を用いて速やかに分析・測定いたします。

STEP 04

報告書類提出(納品)・サンプルの返却

分析完了後、客観的なデータに基づいた詳細な分析報告書類を納品します。あわせて、お預かりしたサンプルを返却いたします。

受託分析成果物について

受託分析では、お客様が期待されているものと弊社の成果物が一致することが大切であり、分析の目的等をお聞きしたうえで十分なすり合わせが必要です。例えば粒子形状の分析といっても、「アスペクト比」「面積円形度」「円形度」などさまざまなパラメーターが存在するため、上記「分析の流れ」で示したとおり、早い段階から成果物のイメージをつかんでいただければと考えております。
必要に応じて、装置特性や各パラメーターの説明を行いますので、依頼前のご相談も含め以下までお気軽にお問合せください。

砥粒の受託加工

お客様の要件に応じてカスタマイズします

規格品から適した製品をセレクトして販売するだけでなく、お客様の加工用途や要件に応じてカスタマイズ対応します。
お客様の要件に応じてカスタマイズします

精密粗粒カット

粗粒のサイズや混入率を検証し、特注サイズのふるい処理により粗大粒を徹底的に除去します。メッシュサイズ・ミクロンサイズともに対応可能で、ワークへの傷の改善や加工効率の向上に貢献します。

カスタムサイズ調整

より厳しい粒度分布の要求にお応えするため、特殊な篩処理等によってサイズの調整をオプションで承ります。処理後の製品は、自社の最新検査機器で効果を確認した上で出荷するため、安心してお使いいただけます。

その他の事業内容

Contact

お問い合わせ

超砥粒製品の選定や、現在お使いの砥粒に関する課題など、お気軽にご相談ください。
ご要望に適した超砥粒製品をご提案します。また、新入社員様や技術者様向けのセミナーも実施しております。

お電話でのお問い合わせ

03-6256-8833

9:30~17:00 ※土日・祝日除く